Microscopia elettronica a scansione – SEM/EDX

Nova Res dispone in house di un microscopio elettronico FLEXSEM1000 HITACHI equipaggiato di sonda EDX OXFORD da 30 mm2 Aztecone. Possono essere effettuate analisi di microscopia accoppiate all’analisi elementare EDX con mappe elemento per elemento. Si possono analizzare campioni in polvere o frammenti o anche prodotti interi in dimensioni fino a 5-6 cm.