L’analisi di dati XRD, sia tradizionale mediante Rietveld che con metodi innovativi quali PCA permette di effettuare analisi qualitative e quantitative delle fasi presenti, sia su materiali campionati che su componenti in condizioni di microdiffrazione per avere mappature a livello micrometrico delle fasi cristalline presenti ed anche della componente amorfa.
